符合标准 BSEN 6506, ISO 6506, ASTM E10, GB/T231
较小测量单位0.1um
硬度值分辨0.1HBW
测试显微镜放大倍率50X(测试)、100X(测试)
保载时间0～99S
数据输出LCD显示
数据存储测量值以EXCEL格式保存在Ｕ盘中
较大允许试件高度180mm
压头到机壁距离160mm
尺寸590×200×680mm
重量50kg
电源AC220+5%,50～60Hz
TESA-HITE 和 TESA-HITE MAGNA具备70年以上的经验,是概念和生产的高.精度测量设备的结果。
它的设计是为了满足生产环境的需要,并为用户提供一个负担得起的,快速和的方法,在车间或实验室的小型或大型工件的尺寸控制。
这个文件描述了如何快速且轻松的操作我们的 TESA-HITE系列包含的四个型号的步:
• TESA-HITE 400 或 700 (光学传感器)
• TESA-HITE MAGNA 400 或 700 (磁栅传感器)
除了一些由于量程和测量方式带来的小差异,整个系列测高仪配置的软件是相同的。这使得有使用其中一个系列仪器经验的操作人员能够很快的上手另一个仪器（反之亦然）。
这类测量仪器用于测量长度，如外部、内部、台阶、高度或深度尺寸以及距离。
测高仪具有一个淬硬铸铁基座(7),其中三个研磨的平面(仅指TESA-HITE)为仪器提供良好的支撑。气浮系统(9)产生的气体从底面气孔排除,使得测高仪可以很轻易的在花岗石.平台移动。
罩壳(13)内的刚性立柱及导向组件都严格地垂直于基座。
测量头在导向组件上滑动,同时TESA-HITE采用光电测量系统(2)和TESA-HITE MAGNA采用磁栅测量系统测量测头的位移。
每台测高仪都搭配一个具备多种数字计算能力的IP65控制面板(11+12)使用，实现可根据每一应用调整的测量方案。
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